I-V特性評価モジュール「4225-PMU」のイメージ。米Keithley Instruments, Inc.のデータ。
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米Keithley Instruments, Inc.は，同社の半導体特性評価装置「4200-SCS」のオプションとして，I-V特性評価モジュール「4225-PMU」を発表した（英文の発表資料）。今回の4225-PMUを使うと，評価装置としては4200-SCSの１台だけで材料，デバイス，プロセスの3種類の特性評価が可能になる。従来，I-V特性を測る時には，専用装置を用意する必要があった。
今回の4225-PMUは，高速の電圧波形発生と同時電流・電圧測定機能を4200-SCSに加えるためのものである。同社は，「高速のI-V印加測定をDC測定のように，容易に実現できるようにした」とする。
